TRIMOS測高儀是一種精密測量儀器，用于測量物體的高度和厚度。它采用了激光干涉技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度、非接觸式的測量。廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、質(zhì)量控制和研發(fā)等領(lǐng)域，為用戶提供了精確、可靠的測量結(jié)果。由主體部分、測量頭和數(shù)據(jù)處理軟件組成。主體部分是整個(gè)儀器的核心，包含了激光源、干涉儀和控制系統(tǒng)等關(guān)鍵組件。測量頭負(fù)責(zé)接觸物體并發(fā)射激光束，通過干涉儀接收和分析激光干涉信號。數(shù)據(jù)處理軟件則負(fù)責(zé)接收和處理干涉信號，并計(jì)算出物體的高度和厚度。
在使用TRIMOS測高儀進(jìn)行測量時(shí)，用戶首先需要將待測物體放置在測量臺上，并調(diào)整測量頭的位置和角度，使其與物體表面保持平行。然后，啟動測量儀器并打開數(shù)據(jù)處理軟件。軟件會自動進(jìn)行校準(zhǔn)和設(shè)置相應(yīng)的測量參數(shù)，如激光功率、干涉儀靈敏度等。校準(zhǔn)完成后，用戶可以開始進(jìn)行測量。測量頭發(fā)射激光束照射在物體表面，激光束會與物體表面反射或折射產(chǎn)生干涉。干涉信號被測量頭接收并傳送到主體部分的干涉儀中，干涉儀會對信號進(jìn)行分析和處理，得出物體的高度和厚度數(shù)據(jù)。
TRIMOS測高儀具有高精度、快速、非接觸式測量等特點(diǎn)。它能夠?qū)崿F(xiàn)微米級別的測量精度，適用于各種形狀和材質(zhì)的物體。同時(shí)，由于采用了非接觸式測量方式，TRIMOS測高儀不會對被測物體造成損傷或變形，保證了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。在制造業(yè)中廣泛應(yīng)用，可用于測量零件、模具、半導(dǎo)體芯片、光學(xué)元件等物體的高度和厚度。它在質(zhì)量控制和研發(fā)中起到了重要作用，能夠幫助用戶監(jiān)測產(chǎn)品的尺寸和形狀，確保產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。
